在透射電子顯微鏡超高分辨衍射成像方法研究的

 

　　【圖文導讀】

 

　　圖1 三維成像光路以及原理圖

 

　　

 

 

 

　　(a)三維成像光路以及原理圖

 

　　(b)多壁碳納米管的透射電鏡圖像

 

　　圖2 重構相位圖像

 

　　

 

 

 

　　(a-b)在兩根碳納米管位置的重構相位圖像

 

　　(d-f)對應位置的放大圖像以及對應的頻譜

 

　　【研究內容】

 

　　實際光學系統中(例如：透鏡)存在各種像差(球差，彗差)，會使最后的成像質量(變大、變形、變色)和分辨率下降。在透射電鏡中，電子束依靠磁透鏡進行會聚，但磁透鏡通常具有固有像差，導致成像扭曲和分辨率下降，極大地約束了電鏡的應用。一種改善分辨率的方法是使用像差校正器。近二十年來，像差校正器的研制和發展，使透射電鏡的分辨率從0.2nm提升到0.05nm(或者更高)，但是加裝一臺像差校正器的費用比較昂貴。另外一種方法則是使用“無透鏡”的衍射重構計算機成像的方法，就是先采集電子束通過物體后在遠場的衍射斑，再通過計算機迭代算法重構獲得物體的像，但該方法要求對樣品有先知條件，因此大大限制了其應用。疊層衍射成像(Ptychography)是在第二種方法的基礎上，通過入射束在樣品掃描，在每個掃描位置下記錄二維衍射強度圖案，從而構建出具有四維空間的衍射數據，然后再通過計算機的反復迭代的方法，重構出樣品的高分辨像以及入射束斑的形狀。由于對成像元件(如：透鏡)的質量無要求，這一方法理論上能夠達到波長限制的極限分辨率，對于通過加速電子成像的透射電鏡來說，這一極限分辨率將是在皮米量級。

 

　　課題組基于疊層衍射成像(Ptychography)方法，重構出六硼化鑭晶體的原子結構像。重構像中在重元素鑭(原子序數為57)清楚解析出輕元素硼(原子序數為5)的原子位置。但是在傳統的高角環形暗場像中，輕元素硼在重元素晶格中是無法觀察到。因此，該成像方法具有對輕元素探測敏感的優勢，可以廣泛地應用于在晶體中輕元素原子的成像。該工作發表在”Electron Ptychographic Diffractive Imaging of Boron Atoms in LaB6 Crystals”, Sci Rep 7, 2857 (2017). 第一作者和通訊作者是南京大學的王鵬教授，南方科技大學的張福才教授為共同通訊作者。

 

　　該工作受到國獲得了科技部973計劃、國家自然科學基金、國際科技合作與交流專項、江蘇省自然科學基金以及中央高校基本科研業務費專項資金的資助。

 

　　原文鏈接：http://news.nju.edu.cn/show_article_12_46787

 

　　文獻鏈接：Electron Ptychographic Diffractive Imaging of Boron Atoms in LaB6 Crystals (Nat.Commun.,2017,DOI:10.1038/s41598-017-02778-x)